Low interface trapped charge density in MBE in situ grown Si3N4 cubic GaN MIS structures

قالب Word

تعداد صفحات 12

قیمت 20000 تومان

عنوان انگلیسی:

Low interface trapped charge density in MBE in situ grown Si3N4 cubic GaN MIS structures

 عنوان فارسی:

غلظت پایین چگالی بار مربوط به MBE در محل رشد  Si3N4ساختار مکعبی GAN MIS

لینک دانلود نسخه انگلیسی مقاله:

http://uplod.ir/6hjeruu0gti6/zado2012.pdf.htm

مقاله به همراه ترجمه

پرداخت  هزینه این پژوهش